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      輻照度計 - 紫外輻照計 型號/圖片

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      美國IL ILT2400輻照計XSD140B探頭365nm光阻劑光刻膠曝光蝕刻測量

      International Light國際光學ILT2400輻照計專用探頭XSD140B用于PCB印刷線路板及半導體行業光刻膠工藝紫外線曝光強度測量,響應波段326-401nm,中心波長365nm,輻照度量程7e-8至1W/cm2,研究級的質量,手持式產品的價格。

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      美國ILT2400-222UV輻照計222nm準分子UVC LED紫外殺菌光源測量驗證帶校準證書

      International Light ILT2400-222UV輻照計經過專門配置和校準,具有經ISO17025認可的NIST可追溯校準證書,可測量220-222nm準分子燈輻射照度,輻照度8 nW/cm2至4 mW/cm2,劑量范圍8 nJ/cm2至數百萬mJ/cm2,用于窄帶UVC紫外殺菌消毒系統中的光源測量驗證,幫助抗擊COVID-19新冠病毒和其他傳染病。

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      以色列OPHIR NOVA II能量計功率計200-1700nm及0.15-20um激光帶模擬輸出

      OPHIR NOVA II手持激光功率能量計數字或模擬指針顯示,通過連接探頭測量響應紫外至紅外波長200-1700nm、短脈沖激光至高能量激光0.15-20um,顯示單位輻照度W/cm2、功率W、能量J,具有模擬信號輸出功能,可記錄存儲54000個數據。

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      peifbnu紫外輻照計UVA

      北師大光電UVA輻照計365nm波長UV-A紫外線輻射量程199.9mW/cm2

      UV-A紫外輻照計新款自動量程型號可手動/自動量程切換,測量上限199.9 mW/cm2,分辨率0.0001 mW/cm2,響應光譜范圍320~400nm,中心波長365nm,適用于光化學、高分子材料老化、植物栽培、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

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      peifbnu紫外輻照計UVB

      北師大光電UVB紫外線輻照計254nm殺菌燈輻照度測量

      UV-B紫外輻照計測量紫外線波長范圍λ=230~275nm/λp=254nm,或λ=275~330nm/λp=297nm,0.1~199900μW/cm2自動量程切換,響應時間1秒,適用于殺菌、光刻、水處理、醫療、育種等領域的紫外輻照度測量工作。

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      美國IL國際光學ILT2400輻照計SED254/QT探頭254nm高強度紫外殺菌燈測量

      International Light ILT2400輻照計SED254/QT探頭光譜響應波段249-259nm,校準于254nm中心波長,輻照度量程范圍7e-7~10W/cm2,專門設計用于各種高強度紫外線殺菌源254nm處的殺菌效果,帶美國NIST可溯源校準和證書。

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      以色列ophir Vega激光功率計能量計200-1700nm波長0.15-20um激光

      以色列OPHIR VEGA手持式激光功率能量計是一款彩色多功能通用型測量主機,可以配合OPHIR任何一款熱電堆、光電或熱釋電探頭匹配使用,響應光譜范圍涵蓋紫外至紅外波長200-1700nm、短脈沖激光至高能量激光0.15-20um,可存儲20萬個數據,內置USB和RS232接口與計算機通訊。

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      美國ILT2400輻照計SED185探頭185nm臭氧殺菌探測器UV光解廢氣

      International Light ILT2400輻照計專用SED185/NS185臭氧殺菌探測器安裝了窄帶濾光片,響應光譜范圍165~200nm ,中心波長185nm,專為測量低強度185nm波長的臭氧殺菌紫外線輻照度,應用于與光解廢氣、水處理和表面殺菌行業。

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      國際光學International Light ILT800-UV輻照計UVA/UVB紫外光固化能量計

      美國International Light ILT800-UV輻照計即UVA/UVB能量計響應波長250-400nm,可同時以測量劑量mJ/cm2和輻照度5mW/cm2~40W/cm2,用于UV墨紫外光固化工藝檢測,一體化集成式設計,每秒3000個數據采樣率,圖形化的測量顯示,可存儲1000個測量值,CureRight PC軟件可下載比較測量值,帶ISO17025認證和NIST可追溯的校準報告證書。

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      北師大光電UV-340紫外輻照計中心波長340nm強度量程199.9x10^3μW/cm2

      北京師范大學光電儀器廠UV-340輻照計用于測量315~370nm波段中心波長為340nm紫外線輻照強度,測量范圍0.1~199.9x10^3 μW/cm2,示值誤差±8%,適用于光化學、高分子材料老化、以及大規模集成電路PCB光刻固化等紫外光源強度測量驗證,另有UV-313型號峰值波長313nm。

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